與 BeCe™ HPS 協同優勢，

作為 BeCe™ HPS 高性能測試插座的配套設備，HJG 夾具完美發揮系統協同效應：

• 精確對準，最大化 HPS 插座的電氣性能與信號完整性

• 共同優化的機械設計，提供一致的接觸力與穩定性

• 整體解決方案降低測試誤差，提高測試可靠性

• 完整相容性確保系統級測試效能最大化

 

無憂測試體驗，BeCe™ HJG 便攜式夾具為您提供無與倫比的使用體驗：

• 免維護設計：減少停機時間，提高測試效率

• 直覺操作：簡化測試流程，減少人為誤差

• 耐用結構：確保長期可靠性與投資回報

• 靈活適配：滿足各種晶片封裝與測試場景需求

 

為速度而生

在競爭激烈的半導體行業，BeCe™ HJG 便攜式夾具為您帶來關鍵時間優勢：

• 快速設置與調整，縮短測試準備時間

• 準確定位與鎖定，提高測試通量

• 便攜設計支持多站點測試，優化資源利用

• 卓越可靠性，最小化重複測試需求