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專為極限性能設計,BeCe™ HPS 測試插座採用獨創編織技術 (Proprietary Weaving Technology) 製造的接觸按鈕,專為以下測試場景優化:
• 大規模 I/O 接口:支援最複雜的晶片設計
• 超高頻寬:完美支援 112G+ PAM4 信號完整性
• 超密間距:低至 0.35mm 的 BGA/LGA 封裝測試
BeCe™ HPS 高性能測試插座
突破性測試解決方案 — 為下一代晶片設計賦能
在半導體設計的極限競賽中,您的創新受限於測試工具的能力。
BeCe™ HPS 高性能測試插座突破這一界限,為您的尖端設計提供無與倫比的測試精確度。
BeCe™ 高性能測試插座

全方位卓越表現
在競爭對手只能在單一領域表現優異時,BeCe™ HPS 實現了全面突破:
• 機械穩定性:專利接觸設計確保測試週期內一致性接觸
• 熱管理:優化散熱路徑,確保高功耗晶片測試精確度
• 電氣性能:低電感設計最小化寄生效應
• 信號完整性:無與倫比的高頻表現,確保高速傳輸不失真
為頂尖設計而生
BeCe™ 高性能測試插座是您設計過程中的戰略合作夥伴,特別適合:
• 移動通信處理器
• 高效能運算晶片
• 資料中心級別的網路處理器
• 高頻類比/數位混合電路
驗證您無法想像的性能
作為業界領導者,您需要測試解決方案不僅能滿足當前需求,更能預見未來挑戰。BeCe™ HPS 不僅是測試工具,更是您突破設計極限的關鍵。
立即聯繫我們安排技術演示,體驗如何將您的晶片設計提升到新高度。
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