BeCe™ OPS 光學測試插座

重新定義先進光學與矽光子測試的標準，在晶片與光學技術融合的時代，您的創新需要突破傳統測試技術的框架。BeCe™ OPS系列測試插座專為下一世代光電整合技術打造，確保您的設計從概念到量產的完美轉化。

BeCe™ OPS 光學適用

• 專為 EMMI (Emission Microscopy發射顯微鏡) 測試設計

• 採用頂級石英材料，在 400-1000nm 波長範圍內提供超過 98% 的穿透率

• 無與倫比的光學精確度與電氣特性完美結合

BeCe™ OPS 矽光子適用

• 專門針對 Co-Packaged （Optics光學）共封裝光學元件測試優化

• 完美支援 TeraPHY MIPO I/O MCP 測試要求

• 實現光電整合測試的精確度與可靠性突破，為未來互連技術設計，隨著數據中心、AI 運算與高速網路的發展，光電整合成為突破帶寬與功耗瓶頸的關鍵。