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BeCe™ 接觸式編織探針
編織的精密藝術，測試的完美連接，在納米級半導體世界中，測試品質決定創新速度。BeCe™ Contact Braided Probe Pins 以革命性的編織技術，為您的尖端晶片設計提供無與倫比的測試精確度與可靠性。
突破性的編織技術
BeCe™ 獨特編織技術打造的 Contact Buttons 實現了測試領域的多項突破：
超薄設計：適應最先進封裝的嚴格空間限制
卓越高頻表現：無損測試從 5G/6G 到 112G+PAM4 的高速信號
極低電感特性：最小化寄生效應，確保測試信號完整性
高頻寬能力：完美支援下一代高速設計的測試需求
BeCe™ Contact Buttons 的 Micro-Wipe 技術為測試帶來革命性體驗：
完美穿透氧化層：確保每次測試的電氣完整性
無損傷接觸：保護您寶貴的設計樣品
一致性接觸阻抗：提供可靠的測試數據
多次使用壽命：顯著降低測試總成本
為下一代晶片設計而生，隨著晶片設計邁向更高頻率、更低功耗與更複雜的混合信號設計，BeCe™ Contact Buttons 提供關鍵競爭優勢：
完美支援數位與類比混合信號測試
卓越的高速信號完整性表現
適應從實驗室到量產的全流程測試需求
新一代產品已完全滿足晶圓級測試要求
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