客製化設計，可精細調整壓縮高度並具有自動補償功能

BeCe™ HJG 與 BeCe™ HPS 測試座共同起源。

實驗室和工程性能測試

WLCSP、fcBGA、DSP 和 QFN 晶片測試

用於 EMMI 測試的光學測試插座

大 I/O、高頻寬、112G + PAM4